硅芯片检查显微镜LW300MT
LW300MT硅芯片检查显微镜专为微电子行业量身定做,适用于硅、砷化镓、磷化铟等基片6″8″盘的生产工艺检查;可以方便的快移和精确的位移检查;也可以适用其它需较大面积标本的工艺检查。
简易型倒置金相显微镜
m232简易型倒置金相显微镜▲ 用以鉴别和分析各种金属和合金的组织结构,对热处理后的材料作一般金相组织的研究工作。▲ 成像清晰,视野宽广,整体设计符合人机工程学,适合长期使用和操作。
工业检测显微镜
具有附件多,使用性能广泛,能做明视场、暗视场和偏光观察等优点。搭配三目观察筒为用户提供数码照相专业数字CCD、高清晰DV等多种图像采集模式,并可根据用户需求提供专业的金相分析软件模块。
金相显微镜m210
m210主要用于鉴定和分析金属内部结构组织。适合电子、冶金、化工和仪器仪表行业用于观察透明、半透明或不透明的物体,如印刷电路板、液晶板、薄膜、纤维、纺织;金相显微镜不仅能观察动态图像,还能将所需要的图片进行编辑、保存和打印。具有附件多,使用性能广泛,能
金相显微镜
BA210Met是电子、金属材料、矿物、地质、精密工程等检查、分析及研究的必备仪器,适用于教学、科研、工业等领域。 采用同轴垂直照明系统,很好的消除了杂散光,从而大大提高成像的对比度(衬度)和清晰度。